Microscopio industrial trinocular de inspección de obleas BS-4020A
Introducción
El microscopio de inspección industrial BS-4020A ha sido especialmente diseñado para inspecciones de obleas de varios tamaños y PCB grandes. Este microscopio puede proporcionar una experiencia de observación confiable, cómoda y precisa. Con una estructura perfectamente realizada, un sistema óptico de alta definición y un sistema operativo ergonómico, el BS-4020 realiza análisis profesionales y satisface diversas necesidades de investigación e inspección de obleas, FPD, paquetes de circuitos, PCB, ciencia de materiales, fundición de precisión, metalocerámicas, moldes de precisión. semiconductores y electrónica, etc.
1. Perfecto sistema de iluminación microscópica.
El microscopio viene con iluminación Kohler, proporciona una iluminación brillante y uniforme en todo el campo de visión. Coordinado con el sistema óptico infinito NIS45, alto NA y objetivo LWD, se pueden proporcionar imágenes microscópicas perfectas.
Características
Campo brillante de iluminación reflejada
BS-4020A adopta un excelente sistema óptico infinito. El campo de visión es uniforme, brillante y con un alto grado de reproducción del color. Es adecuado para observar muestras de semiconductores opacos.
campo oscuro
Puede obtener imágenes de alta definición en la observación de campo oscuro y realizar inspecciones de alta sensibilidad para detectar defectos como rayones finos. Es adecuado para la inspección de superficies de muestras con altas exigencias.
Campo brillante de iluminación transmitida.
Para muestras transparentes, como FPD y elementos ópticos, la observación del campo brillante se puede realizar mediante un condensador de luz transmitida. También se puede utilizar con DIC, polarización simple y otros accesorios.
polarización simple
Este método de observación es adecuado para muestras de birrefringencia como tejidos metalúrgicos, minerales, LCD y materiales semiconductores.
Iluminación reflejada DIC
Este método se utiliza para observar pequeñas diferencias en moldes de precisión. La técnica de observación puede mostrar la pequeña diferencia de altura que no se puede ver mediante una observación ordinaria en forma de relieve e imágenes tridimensionales.
2. Objetivos de campo brillante y campo oscuro Semi-APO y APO de alta calidad.
Al adoptar la tecnología de recubrimiento multicapa, los objetivos Semi-APO y APO de la serie NIS45 pueden compensar la aberración esférica y la aberración cromática desde el ultravioleta hasta el infrarrojo cercano. Se puede garantizar la nitidez, resolución y reproducción cromática de las imágenes. Se puede obtener la imagen con alta resolución y una imagen plana para varios aumentos.
3. El panel operativo está en la parte frontal del microscopio, lo que es cómodo de operar.
El panel de control del mecanismo está ubicado en la parte frontal del microscopio (cerca del operador), lo que hace que la operación sea más rápida y cómoda al observar la muestra. Y puede reducir la fatiga causada por la observación prolongada y el polvo flotante provocado por un gran rango de movimiento.
4. Cabezal de visualización trinocular ergoinclinable.
El cabezal de visualización inclinable Ergo puede hacer que la observación sea más cómoda, minimizando la tensión muscular y las molestias causadas por largas horas de trabajo.
5. Mecanismo de enfoque y manija de ajuste fino de la platina con posición baja de la mano.
El mecanismo de enfoque y la manija de ajuste fino del escenario adoptan el diseño de posición de mano baja, que se ajusta al diseño ergonómico. Los usuarios no necesitan levantar las manos al operar, lo que brinda el mayor grado de sensación de comodidad.
6. El escenario tiene una manija de agarre incorporada.
El mango de agarre puede realizar el modo de movimiento rápido y lento del escenario y puede localizar rápidamente muestras de áreas grandes. Ya no será difícil localizar las muestras de forma rápida y precisa cuando se utilice junto con el mango de ajuste fino de la platina.
7. Se puede utilizar una platina de gran tamaño (14”x 12”) para obleas y PCB de gran tamaño.
Las áreas de las muestras de microelectrónica y semiconductores, especialmente las obleas, tienden a ser grandes, por lo que la platina de un microscopio metalográfico ordinario no puede satisfacer sus necesidades de observación. BS-4020A tiene un escenario de gran tamaño con un amplio rango de movimiento, y es conveniente y fácil de mover. Por lo que es un instrumento ideal para la observación microscópica de muestras industriales de grandes superficies.
8. El soporte para obleas de 12” viene con el microscopio.
Con este microscopio se pueden observar obleas de 12” y obleas de menor tamaño, con un mango de platina de movimiento rápido y fino que puede mejorar en gran medida la eficiencia del trabajo.
9. La cubierta protectora antiestática puede reducir el polvo.
Las muestras industriales deben estar alejadas del polvo flotante, ya que un poco de polvo puede afectar la calidad del producto y los resultados de las pruebas. BS-4020A tiene una gran área de cubierta protectora antiestática, que puede evitar el polvo flotante y la caída del polvo para proteger las muestras y hacer que el resultado de la prueba sea más preciso.
10. Mayor distancia de trabajo y alto objetivo de NA.
Los componentes electrónicos y semiconductores de las muestras de placas de circuito tienen diferencias de altura. Por lo tanto, en este microscopio se han adoptado objetivos de larga distancia de trabajo. Mientras tanto, para satisfacer los altos requisitos de reproducción del color de las muestras industriales, la tecnología de recubrimiento multicapa se ha desarrollado y mejorado a lo largo de los años y se adoptan objetivos BF&DF semi-APO y APO con alto NA, que pueden restaurar el color real de las muestras. .
11. Varios métodos de observación pueden cumplir diversos requisitos de prueba.
| Iluminación | campo brillante | campo oscuro | CID | Luz fluorescente | Luz polarizada |
| Iluminación reflejada | ○ | ○ | ○ | ○ | ○ |
| Iluminación transmitida | ○ | - | - | - | ○ |
Solicitud
El microscopio de inspección industrial BS-4020A es un instrumento ideal para inspecciones de obleas de varios tamaños y PCB grandes. Este microscopio se puede utilizar en universidades, fábricas de electrónica y chips para la investigación e inspección de obleas, FPD, paquetes de circuitos, PCB, ciencia de materiales, fundición de precisión, metalocerámicas, moldes de precisión, semiconductores y electrónica, etc.
Especificación
| Artículo | Especificación | BS-4020A | BS-4020B | |
| Sistema óptico | Sistema óptico con corrección de color infinito NIS45 (longitud del tubo: 200 mm) | ● | ● | |
| Cabezal de visualización | Cabeza trinocular inclinable Ergo, ajustable con inclinación de 0 a 35°, distancia interpupilar de 47 mm a 78 mm; relación de división Ocular:Trinocular=100:0 o 20:80 o 0:100 | ● | ● | |
| Cabeza trinocular Seidentopf, inclinada 30°, distancia interpupilar: 47 mm-78 mm; relación de división Ocular:Trinocular=100:0 o 20:80 o 0:100 | ○ | ○ | ||
| Cabeza binocular Seidentopf, inclinada 30°, distancia interpupilar: 47 mm-78 mm | ○ | ○ | ||
| Ocular | Ocular de plano de campo súper amplio SW10X/25 mm, ajustable en dioptrías | ● | ● | |
| Ocular de plano de campo súper amplio SW10X/22 mm, ajustable en dioptrías | ○ | ○ | ||
| Ocular de plano de campo extra amplio EW12,5X/17,5 mm, ajustable en dioptrías | ○ | ○ | ||
| Ocular de plano de campo amplio WF15X/16 mm, ajustable en dioptrías | ○ | ○ | ||
| Ocular de plano de campo amplio WF20X/12 mm, ajustable en dioptrías | ○ | ○ | ||
| Objetivo | NIS45 Objetivo Semi-APO del Plan LWD Infinito (BF y DF), M26 | 5X/NA=0,15, WD=20 mm | ● | ● |
| 10X/NA=0,3, WD=11mm | ● | ● | ||
| 20X/NA=0,45, WD=3,0 mm | ● | ● | ||
| Objetivo APO del Plan LWD Infinito NIS45 (BF y DF), M26 | 50X/NA=0,8, WD=1,0 mm | ● | ● | |
| 100X/NA=0,9, WD=1,0 mm | ● | ● | ||
| NIS60 Infinite LWD Plan Semi-APO Objetivo (BF), M25 | 5X/NA=0,15, WD=20 mm | ○ | ○ | |
| 10X/NA=0,3, WD=11mm | ○ | ○ | ||
| 20X/NA=0,45, WD=3,0 mm | ○ | ○ | ||
| Objetivo APO (BF) del Plan LWD Infinito NIS60, M25 | 50X/NA=0,8, WD=1,0 mm | ○ | ○ | |
| 100X/NA=0,9, WD=1,0 mm | ○ | ○ | ||
| Muserola | Revólver séxtuple hacia atrás (con ranura DIC) | ● | ● | |
| Condensador | Condensador LWD NA0.65 | ○ | ● | |
| Iluminación transmitida | Fuente de alimentación LED de 40W con guía de luz de fibra óptica, intensidad regulable | ○ | ● | |
| Iluminación reflejada | Lámpara halógena de luz reflejada de 24 V/100 W, iluminación Koehler, con torreta de 6 posiciones | ● | ● | |
| Casa de lámpara halógena de 100W. | ● | ● | ||
| Luz reflejada con lámpara LED de 5W, iluminación Koehler, con torreta de 6 posiciones | ○ | ○ | ||
| Módulo de campo claro BF1 | ● | ● | ||
| Módulo de campo claro BF2 | ● | ● | ||
| Módulo de campo oscuro DF | ● | ● | ||
| Filtro ND6, ND25 incorporado y filtro de corrección de color | ○ | ○ | ||
| Función ECO | Función ECO con botón ECO | ● | ● | |
| Enfoque | Enfoque coaxial grueso y fino de posición baja, división fina 1 μm, rango de movimiento 35 mm | ● | ● | |
| Escenario | Platina mecánica de 3 capas con mango de agarre, tamaño 14”x12” (356mmx305mm); rango de movimiento 356 mm x 305 mm; Área de iluminación para luz transmitida: 356x284mm. | ● | ● | |
| Soporte para oblea: podría usarse para sostener oblea de 12" | ● | ● | ||
| Kit de centro de información al conductor | Kit DIC para iluminación reflejada (se puede utilizar para objetivos 10X, 20X, 50X, 100X) | ○ | ○ | |
| Kit polarizador | Polarizador para iluminación reflejada. | ○ | ○ | |
| Analizador de iluminación reflejada, giratorio 0-360° | ○ | ○ | ||
| Polarizador para iluminación transmitida. | ○ | ○ | ||
| Analizador de iluminación transmitida. | ○ | ○ | ||
| Otros accesorios | Adaptador de montaje C 0,5X | ○ | ○ | |
| 1 adaptador de montaje en C. | ○ | ○ | ||
| Guardapolvo | ● | ● | ||
| Cable de alimentación | ● | ● | ||
| Diapositiva de calibración 0,01 mm | ○ | ○ | ||
| Prensador de muestras | ○ | ○ | ||
Nota: ● Equipo estándar, ○ Opcional
Imagen de muestra
Dimensión
Unidad: mm
Diagrama del sistema
Certificado
Logística
