Microscopio metalúrgico vertical de investigación BS-6024TRF
BS-6024TRF
Introducción
Los microscopios metalúrgicos verticales de la serie BS-6024 han sido desarrollados para la investigación con una serie de diseños pioneros en apariencia y funciones, con amplio campo de visión, alta definición y objetivos metalúrgicos semiapocromáticos de campo brillante/oscuro y un sistema operativo ergonómico, nacieron para Proporcionar una solución de investigación perfecta y desarrollar un nuevo patrón de campo industrial.
Características
1. Excelente sistema óptico infinito.
Con el excelente sistema óptico infinito, el microscopio metalúrgico vertical de la serie BS-6024 proporciona alta resolución, alta definición e imágenes con corrección de aberración cromática que pueden mostrar muy bien los detalles de su muestra.
2. Diseño Modular.
Los microscopios de la serie BS-6024 se han diseñado con modularidad para satisfacer diversas aplicaciones industriales y de ciencia de materiales.Ofrece a los usuarios flexibilidad para crear un sistema para necesidades específicas.
3. Función ECO.
La luz del microscopio se apagará automáticamente después de 15 minutos de que los operadores se hayan ido.No sólo ahorra energía, sino que también prolonga la vida útil de la lámpara.
4. Cómodo y fácil de usar.
(1) Objetivos Semi-APO y APO del Plan Infinito NIS45.
Con vidrio de alta transparencia y tecnología de recubrimiento avanzada, la lente objetivo NIS45 puede proporcionar imágenes de alta resolución y reproducir con precisión el color natural de las muestras.Para aplicaciones especiales, hay disponible una variedad de objetivos, incluidos polarizadores y de larga distancia de trabajo.
(2) Nomarski DIC.
Con el módulo DIC de nuevo diseño, la diferencia de altura de una muestra que no se puede detectar con campo claro se convierte en una imagen en relieve o en 3D.Es ideal para observar partículas conductoras de LCD y rayones en la superficie del disco duro, etc.
(3) Sistema de enfoque.
Para que el sistema sea adecuado a los hábitos operativos de los operadores, la perilla de enfoque y la platina se pueden ajustar hacia el lado izquierdo o derecho.Este diseño hace que la operación sea más cómoda.
(4) Cabeza trinocular inclinable Ergo.
El tubo ocular se puede ajustar de 0 ° a 35 °, el tubo trinocular se puede conectar a una cámara DSLR y una cámara digital, y tiene un divisor de haz de 3 posiciones (0:100, 100:0, 80:20), la barra divisora se puede ajustar ensamblado en ambos lados según los requisitos del usuario.
5. Varios métodos de observación.
Campo oscuro (oblea)
Darkfield permite la observación de la luz dispersa o difractada de la muestra.Todo lo que no es plano refleja esta luz, mientras que todo lo que es plano parece oscuro, por lo que las imperfecciones se destacan claramente.El usuario puede identificar la existencia de incluso un pequeño rasguño o defecto hasta el nivel de 8 nm, más pequeño que el límite de potencia de resolución de un microscopio óptico.Darkfield es ideal para detectar pequeños rayones o defectos en una muestra y examinar muestras de superficies de espejos, incluidas las obleas.
Contraste de interferencia diferencial (partículas conductoras)
DIC es una técnica de observación microscópica en la que la diferencia de altura de una muestra no detectable con campo claro se convierte en una imagen en relieve o tridimensional con contraste mejorado.Esta técnica utiliza luz polarizada y se puede personalizar con una selección de tres prismas especialmente diseñados.Es ideal para examinar muestras con diferencias de altura muy pequeñas, incluidas estructuras metalúrgicas, minerales, cabezales magnéticos, medios de disco duro y superficies de obleas pulidas.
Observación de luz transmitida (LCD)
Para muestras transparentes como pantallas LCD, plásticos y materiales de vidrio, la observación de luz transmitida está disponible mediante el uso de una variedad de condensadores.El examen de muestras en campo claro transmitido y en luz polarizada se puede realizar todo en un sistema conveniente.
Luz polarizada (amianto)
Esta técnica de observación microscópica utiliza luz polarizada generada por un conjunto de filtros (analizador y polarizador).Las características de la muestra afectan directamente la intensidad de la luz reflejada a través del sistema.Es adecuado para estructuras metalúrgicas (es decir, patrón de crecimiento de grafito sobre fundición nodular), minerales, LCD y materiales semiconductores.
Solicitud
Los microscopios de la serie BS-6024 se usan ampliamente en institutos y laboratorios para observar e identificar la estructura de diversos metales y aleaciones, también se pueden usar en la industria electrónica, química y de semiconductores, como obleas, cerámicas, circuitos integrados, chips electrónicos, impresos. placas de circuito, paneles LCD, películas, polvo, tóner, alambre, fibras, revestimientos chapados, otros materiales no metálicos, etc.
Especificación
Artículo | Especificación | BS-6024RF | BS-6024TRF | |
Sistema óptico | Sistema óptico con corrección de color infinito NIS45 (longitud del tubo: 200 mm) | ● | ● | |
Cabezal de visualización | Cabeza trinocular inclinable Ergo, ajustable con inclinación de 0 a 35°, distancia interpupilar de 47 mm a 78 mm;relación de división Ocular:Trinocular=100:0 o 20:80 o 0:100 | ● | ● | |
Cabeza trinocular Seidentopf, inclinada 30°, distancia interpupilar: 47 mm-78 mm;relación de división Ocular:Trinocular=100:0 o 20:80 o 0:100 | ○ | ○ | ||
Cabeza binocular Seidentopf, inclinada 30°, distancia interpupilar: 47 mm-78 mm | ○ | ○ | ||
Ocular | Ocular de plano de campo súper amplio SW10X/25 mm, ajustable en dioptrías | ● | ● | |
Ocular de plano de campo súper amplio SW10X/22 mm, ajustable en dioptrías | ○ | ○ | ||
Ocular de plano de campo extra amplio EW12,5X/16 mm, ajustable en dioptrías | ○ | ○ | ||
Ocular de plano de campo amplio WF15X/16 mm, ajustable en dioptrías | ○ | ○ | ||
Ocular de plano de campo amplio WF20X/12 mm, ajustable en dioptrías | ○ | ○ | ||
Objetivo | Objetivo semi-APO del plan LWD infinito NIS45 (BF y DF) | 5X/NA=0,15, WD=20 mm | ● | ● |
10X/NA=0,3, WD=11mm | ● | ● | ||
20X/NA=0,45, WD=3,0 mm | ● | ● | ||
Objetivo APO del Plan LWD Infinito NIS45 (BF y DF) | 50X/NA=0,8, WD=1,0 mm | ● | ● | |
100X/NA=0,9, WD=1,0 mm | ● | ● | ||
Objetivo Semi-APO (BF) del Plan LWD Infinito NIS60 | 5X/NA=0,15, WD=20 mm | ○ | ○ | |
10X/NA=0,3, WD=11mm | ○ | ○ | ||
20X/NA=0,45, WD=3,0 mm | ○ | ○ | ||
Objetivo APO (BF) del Plan LWD Infinito NIS60 | 50X/NA=0,8, WD=1,0 mm | ○ | ○ | |
100X/NA=0,9, WD=1,0 mm | ○ | ○ | ||
Muserola
| Revólver séxtuple hacia atrás (con ranura DIC) | ● | ● | |
Condensador | Condensador LWD NA0.65 | ○ | ● | |
Iluminación transmitida | Lámpara halógena de 24V/100W, iluminación Kohler, con filtro ND6/ND25 | ○ | ● | |
Lámpara S-LED de 3W, central preestablecida, intensidad ajustable | ○ | ○ | ||
Iluminación reflejada | Lámpara halógena de luz reflejada de 24 V/100 W, iluminación Koehler, con torreta de 6 posiciones | ● | ● | |
Casa de lámpara halógena de 100W. | ● | ● | ||
Luz reflejada con lámpara LED de 5W, iluminación Koehler, con torreta de 6 posiciones | ○ | ○ | ||
Módulo de campo claro BF1 | ○ | ○ | ||
Módulo de campo claro BF2 | ● | ● | ||
Módulo de campo oscuro DF | ● | ● | ||
Filtro ND6, ND25 incorporado y filtro de corrección de color | ○ | ○ | ||
Función ECO | Función ECO con botón ECO | ● | ● | |
Enfoque | Enfoque coaxial grueso y fino de posición baja, división fina 1 μm, rango de movimiento 35 mm | ● | ● | |
Máx.Altura de la muestra | 76mm | ● |
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56mm |
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Escenario | Platina mecánica de doble capa, tamaño 210 mm x 170 mm;rango de movimiento 105 mm x 105 mm (mango derecho o izquierdo);precisión: 1 mm;Con superficie dura oxidada para evitar la abrasión, la dirección Y podría bloquearse | ● | ● | |
Soporte para oblea: podría usarse para sostener oblea de 2”, 3”, 4” | ○ | ○ | ||
Kit de centro de información al conductor | Kit DIC para iluminación reflejada (se puede utilizar para objetivos 10X, 20X, 50X, 100X) | ○ | ○ | |
Kit polarizador | Polarizador para iluminación reflejada. | ○ | ○ | |
Analizador de iluminación reflejada, 0-360°giratorio | ○ | ○ | ||
Polarizador para iluminación transmitida. |
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Analizador de iluminación transmitida. |
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Otros accesorios | Adaptador de montaje C 0,5X | ○ | ○ | |
1 adaptador de montaje en C. | ○ | ○ | ||
Guardapolvo | ● | ● | ||
Cable de alimentación | ● | ● | ||
Diapositiva de calibración 0,01 mm | ○ | ○ | ||
Prensador de muestras | ○ | ○ |
Nota: ●Equipo estándar, ○Opcional
Sistema de diagrama
Dimensión
BS-6024RF
BS-6024TRF
Unidad: mm
Certificado
Logística